作物冠層參數(shù)可反映作物生長(zhǎng)狀況和趨勢(shì)，是聯(lián)系遙感特征和作物產(chǎn)量的重要參數(shù)。光學(xué)遙感易受云雨天氣影響，難以獲取有效遙感數(shù)據(jù)源。合成孔徑雷達(dá)技術(shù)能在各種氣象條件下獲取目標(biāo)地物散射信息，為作物冠層信息的及時(shí)獲取提供數(shù)據(jù)保障。

 

　　該研究梳理了現(xiàn)有研究相關(guān)的關(guān)鍵合成孔徑雷達(dá)特征和作物冠層參數(shù)，并總結(jié)了冠層參數(shù)反演精度的影響因素，將反演模型分為經(jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ汀虢?jīng)驗(yàn)?zāi)Ｐ秃蜋C(jī)理模型，詳細(xì)闡述各模型的原理、優(yōu)缺點(diǎn)與發(fā)展趨勢(shì)。同時(shí)討論了現(xiàn)有研究存在的問(wèn)題，并展望未來(lái)發(fā)展方向。該研究發(fā)現(xiàn)，作物生長(zhǎng)過(guò)程具有人工屬性，比自然植被生長(zhǎng)過(guò)程更復(fù)雜，將雷達(dá)遙感機(jī)理與農(nóng)學(xué)機(jī)理深度結(jié)合可精確模擬作物微波散射信息。模型構(gòu)建過(guò)程中需重視發(fā)展機(jī)理模型，探索微波與作物間“真實(shí)”關(guān)系，協(xié)同極化分解技術(shù)和機(jī)理模型增加合成孔徑雷達(dá)特征的可解釋性。該研究為積極探索融合新興技術(shù)，擴(kuò)大作物冠層參數(shù)反演模型的應(yīng)用范圍提供理論支撐。

 

　　該研究得到國(guó)家自然科學(xué)基金等項(xiàng)目的支持。

 

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　　https://ieeexplore.ieee.org/document/10699365